通锐微电子显示装置校正方案 解决OLED“烧屏”问题

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【嘉勤点评】通锐微电子发明的显示装置的校正方案，利用四个晶体管进行数据电压的处理，并对显示装置中的电流值进行监测，从而降低了显示装置中的通常动作和特性检测动作的电流误差，提高了显示装置的外部补偿精度。

，有源矩阵方式的有机发光显示装置(OLED)具有响应速度快、发光效率、亮度以及视角大的优点，相关企业以及研发人员也投入了大量的精力进行研发。

有机发光显示装置一般将“用于控制流到OLED驱动电流的驱动晶体管”以及“由OLED构成的像素电路”按照矩阵的形状进行排列，并根据视频信号调整像素的亮度，以显示图像信息，像素的亮度通过利用驱动晶体管的栅极电压控制驱动电流来调整。

但是，OLED由于经时劣化或者局部长时间高亮度显示等而劣化(出现残影)，局部亮度会下降，也就是我们常听到的词“烧屏”，这就成为了与周围像素产生显著亮度差的原因，将导致图像在显示中产生亮度不均的问题，因此需要对显示装置进行校正。

为此，通锐微电子在2021年2月9日申请了一项名为“显示装置”的发明专利（申请号：202110180070.X），申请人为深圳通锐微电子技术有限公司。

根据该专利中发明的相关资料，让我们一起来看看这项发明专利吧。

如上图，为该专利中发明的显示装置的构成电路图，该显示装置10包含像素电路20、具有监视电路的功能的输出电路30以及控制部50。像素电路由发光元件、存储电容器Cst(电容元件)、第1晶体管T1、第2晶体管(驱动晶体管)T2、第3晶体管T3(监视控制晶体管)、以及第4晶体管(发光控制晶体管)构成。

第1晶体管～第4晶体管为N型，在像素电路中，第1、第2、第3和第4晶体管的栅极端子分别连接到扫描信号线Gi、数据信号线Sj、监视控制线Mi以及发光控制线Ei。数据信号线Sj兼作监视线，第2晶体管的源极端子经由第3晶体管连接到数据信号线Sj，并且经由第4晶体管连接到OLED的阳极。

输出电路包含DA转换器321、选择器322、运算放大器331、监视电容器332、AD转换器324以及开关333、334、335。运算放大器的反相输入端子经由开关334连接到数据信号线Sj，非反相输入端子连接到DA转换器，输出端子连接到选择器的输入端子，开关333和监视电容器并联配置于运算放大器的反相输入端子与输出端子之间。

控制部则包含校正数据运算部201、存储器202、视频数据校正部203、基准信号生成部204、电压运算部205以及选择器206。

上图为基于显示装置硬件环境的校正工序执行流程图，首先，将与从基准信号生成部204发送来的基准信号DAT2对应的基准电压Vs1施加到第2晶体管的源极端子，进行第1次对OLED特性的检测，该步骤在下图所示的期间To1～To4进行。

其中，期间To1用于OLED特性检测以及向存储电容器Cst进行写入；在期间To2，用于完成OLED特性检测，并可为数据信号线Sj进行充电；在期间To3中可以检测OLED的特性并完成对流到OLED电流的积分；在期间To4则完成OLED特性检测的AD转换。

接着，系统利用电压运算部算出为了使与在上一步骤中检测出的同值电流，流到第2晶体管所需要的监视用的数据电压Vx1，并将第2晶体管的栅极端子设定为数据电压Vx1，进行第1次对第2晶体管特性的检测。

随后，将与从基准信号生成部发送来的基准信号DAT2对应的基准电压Vs2施加到OLED的阳极端子，并进行第2次对OLED特性的检测。同样，继续计算出同值电流流到第2晶体管所需要的监视用的数据电压Vx2，将第2晶体管的栅极端子设定为数据电压Vx2，并进行第2次对第2晶体管特性的检测。

最后，由校正数据运算部基于表示OLED特性和第2晶体管特性的数字信号算出本次的校正数据，并将存储器的校正数据进行更新。

以上就是通锐微电子发明的显示装置的校正方案，该方案利用四个晶体管进行数据电压的处理，并对显示装置中的电流值进行监测，从而降低了显示装置中的通常动作和特性检测动作的电流误差，并提高了显示装置的外部补偿精度。

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